日本 JIMA分辨率测试卡
产品销售编号：20220805-04
产品销售厂家：固安县双玉仪器有限公司
X射线波长很短不可见，但它照射到某些化合物时，可使物质发生荧光(可见光或紫外线)，荧光的强弱与X射线量成正比。这种作用是X射线应用于透是的基础，利用这种荧光作用可制成荧光屏，用作透是时观察X射线通过人体组织的影像，也可制成增感屏，用作摄影时增强胶片的感光量。
芯片截面
L/S宽度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm铝上。
16个Au图被放置在8x8mm的Si芯片上。
规格
外径：W40xD30xT3毫米 硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
空间频率
原意为亮度在空间中呈现正弦波变化的单色光,在单位长度内亮度变化的周期数即为其空间频率。在成像系统定义为空间分辨率,即单位长度内的线对数,单位是LP/mm或LP/cm。有时候在成像系统中将空间分辨率简称为分辨率。
铅当量
用铅作为基准物质时,以铅的厚度来表示的衰减当量。更多线对卡的相关产品的详细介绍请咨询固安县双玉仪器有限公司。
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